Principe : La fluorescence des rayons X (XRF) est une technique non destructrice qui sert à quantifier la composition élémentaire des échantillons solides et liquides.
L’échantillon à analyser est placé sous un faisceau de rayons X. Sous l’effet de ces rayons X, les atomes constituant l’échantillon passent de leur état fondamental à un état excité. L’état excité est instable, les atomes tendent alors à revenir à l’état fondamental en libérant de l’énergie, sous forme de photons X notamment. Chaque atome, ayant une configuration électronique propre, va émettre des photons d’énergie et de longueur d’onde propres. C’est le phénomène de fluorescence X qui est une émission secondaire de rayons X, caractéristiques des atomes qui constituent l’échantillon. L’analyse de ce rayonnement X secondaire permet à la fois de connaitre la nature des éléments chimiques présents dans un échantillon ainsi que leur concentration massique.
Il existe deux systèmes XRF, un système à dispersion de longueur d’onde (WDXRF) et un système à dispersion d’énergie (EDXRF). La différence est la manière dont les rayons X sont détectés.